高精度MTF測量儀

簡要描述：法國Phasics公司高精度MTF測量儀可以提供全面的鏡頭測試：軸上MTF，軸外MTF，波前像差，EFL，澤尼克像差（Zernike aberrations）及多波長（250-400nm,400-1100nm,900-1700nm,1um-2.35um,3-5um & 8-12um）測量

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品牌	昊量光電	產(chǎn)地類別	進口
應(yīng)用領(lǐng)域	綜合

高精度MTF測量儀

法國Phasics公司高精度MTF測量儀可以提供全面的鏡頭測試：軸上MTF，軸外MTF，波前像差，EFL，澤尼克像差（Zernike aberrations）及多波長（250-400nm,400-1100nm,900-1700nm,1um-2.35um,3-5um & 8-12um）測量。

關(guān)鍵詞：傳函儀,光學傳函儀,MTF測量系統(tǒng),MTF測量儀,鏡頭傳函儀,光學傳遞函數(shù)儀,魚眼鏡頭測量儀,廣角鏡頭測量儀

高精度MTF測量儀

法國Phasics傳函儀可以用于像魚眼鏡頭等大視角的廣角鏡頭質(zhì)量檢測?；?的技術(shù)，測量過程無需中繼透鏡（relay lens）,可以大大的提高檢測效率級檢測精度。

產(chǎn)品特點：

1、直接測量、無需中繼透鏡（relay lens）

高精度MTF測量儀

圖一、檢測光路

2、離軸MTF測量范圍大：210^o

3、高檢測精度：MTF（on axis）：<1%(accuracy),<0.5%(Repeatability); MTF（off axis）：<2%(accuracy);<1%(Repeatability);

4、快速測量：測量一片樣品的時間 ≤ 1s

5、實時顯示澤尼克相差系數(shù)

指標參數(shù)：

可以提供全面的鏡頭測試：軸上MTF，軸外MTF，波前像差，EFL，澤尼克像差（Zernike aberrations）及多波長（250-400nm,400-1100nm,900-1700nm,1um-2.35um,3-5um & 8-12um）測量。

關(guān)鍵詞：傳函儀,光學傳函儀,MTF測量系統(tǒng),MTF測量儀,鏡頭傳函儀,光學傳遞函數(shù)儀,魚眼鏡頭測量儀,廣角鏡頭測量儀

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